STED納米標(biāo)尺
應(yīng)用于STED高分辨率系統(tǒng)測試及校準(zhǔn)

產(chǎn)品特性:
作為一個(gè)高分辨率顯微技術(shù)的STED方法改變了光學(xué)顯微鏡。適用于STED的校準(zhǔn)探針--GATTA-STED納米標(biāo)尺也終于面世。標(biāo)尺帶有高量子效率的熒光標(biāo)記染料ATTO 647N。兩個(gè)熒光分子之間的距離固定,我們提供的尺寸包括:30nm,50nm,70nm和90nm。
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